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PRODUCT CLASSIFICATION
產(chǎn)品分類產(chǎn)品展示/ Product display
日本katsura高精度測量傾斜、位移等儀器 MF-5550-0002/MF-5570-0002該設(shè)備非常適合評估和檢查智能手機(jī)和其他設(shè)備中安裝的具有鏡頭移位圖像穩(wěn)定 (OIS) 的相機(jī)模塊執(zhí)行器。通過使用專用目標(biāo)，可以高精度、高速地同時測量五個項(xiàng)目：目標(biāo)物體的傾斜（θX、θY）、位移（Z）和位置（X、Y）。
產(chǎn)品型號：MF-5550-0002/MF-5570-0002廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商更新時間：2024-10-12訪 問 量：508
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日本katsura高精度測量傾斜、位移等儀器 MF-5550-0002/MF-5570-0002 特點(diǎn)介紹
該設(shè)備非常適合評估和檢查智能手機(jī)和其他設(shè)備中安裝的具有鏡頭移位圖像穩(wěn)定 (OIS) 的相機(jī)模塊執(zhí)行器。
通過使用專用目標(biāo)，可以高精度、高速地同時測量五個項(xiàng)目：目標(biāo)物體的傾斜（θX、θY）、位移（Z）和位置（X、Y）。
除了使用激光進(jìn)行自準(zhǔn)直儀角度測量之外，還可以同時測量位移（X、Y、Z）和旋轉(zhuǎn)角度的測量儀器。
隆重推出可實(shí)時捕捉一切的創(chuàng)新產(chǎn)品。這些創(chuàng)新產(chǎn)品將您的測量概念提升到一個新的水平。
此外，我們還將介紹一種利用干涉的鏡頭波前像差測量裝置。
日本katsura高精度測量傾斜、位移等儀器 MF-5550-0002/MF-5570-0002 規(guī)格參數(shù)
MF-5550-0002
主要規(guī)格
測量范圍
傾斜 (θX-θY)：±60 分鐘（圓形范圍）
位移 (Z)：±1mm
位置 (XY)：±0.5mm
工作距離：80±0.5mm
輸出更新率：10,000次/秒
MF-5570-0002
測量范圍
傾斜 (θX-θY)：±60 分鐘（圓形范圍）
位移 (Z)：±1mm
位置 (XY)：±0.7mm
工作距離：80±0.5mm
輸出更新率：10,000次/秒
郵箱：akiyama_zhou@163.com
傳真：
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