日本seikou-giken光干涉非接觸式測量厚度儀 WLI2000系列 特點介紹

厚度測量傳感器WLI2000系列

該傳感器的特點是利用光干涉非接觸式測量工件的厚度。

它是應用醫(yī)院眼底檢查中使用的 OCT 檢查技術而開發(fā)的工業(yè)測量傳感器。

這是該公司的第一個內部產品。這是一種通過傳輸光，以非接觸方式即時測量材料深度和厚度的裝置，由工業(yè)界和學術界與千葉大學椎名龍夫實驗室共同開發(fā)。據(jù)說任何能透過光的物質都可以測量。我們正在開發(fā)樹脂、塑料、玻璃制品等檢查的銷售渠道。

它具有從15μm到14mm（空間距離）的寬測量范圍，還可以進行其他測量方法難以完成的測量，例如測量透鏡內部厚度、測量間隙深度和材料內部缺陷。

目前正在開發(fā)中，未來可用于再生醫(yī)學領域。

日本seikou-giken光干涉非接觸式測量厚度儀 WLI2000系列 規(guī)格參數(shù)

頻道數(shù)可作為可選規(guī)格擴展至16ch。

為了提高精度，測定速度根據(jù)平均化和測定層數(shù)而變化。

·通過平均化處理提高測定精度。（10次平均、2mm玻璃板、±1μm實際結果）

測量范圍為玻璃板。

來自外部系統(tǒng)的操作為使用的DIO模塊的串行通信。

1最大8ch測定

2高速測定max.8ch/5sec

3測定精度+/-0.3%

4測量范圍15微~10mm

5可從外部系統(tǒng)操作