日本teclock晶圓薄膜杠桿式測厚量規(guī)厚度計
日本teclock晶圓薄膜杠桿式測厚量規(guī)厚度計

• 測量頭 & 砧座：陶瓷制，防銹、耐磨、不劃傷工件
• 測量范圍：0 – 20 mm
• 分辨率：0.01 mm
• 可測工件：厚度 ≤ 20 mm 的薄膜、晶圓、塑料、金屬薄板等
• 特點：小巧輕便，低測力設計，適合現(xiàn)場或實驗室快速測量

• 安裝方便
  可固定于支架或治具，也可單手手持測量。
• 測量方法
  將測頭輕夾在被測物兩側，直接讀取厚度值。
  按壓升降桿，測頭抬起→放入樣品→松開即自動回零，操作簡單。
• 高精度刻度
  表盤式刻度提供 0.01 mm 與 0.001 mm 兩種分辨率。
• 測量范圍
  最大可測厚度 50 mm（視具體機型）。
• 適用樣品
  頭發(fā)絲、金屬薄板、細管、小成型件等均可快速測量，適合現(xiàn)場短時抽檢。

• 安裝方便
  可固定于支架或治具，也可單手手持測量。
• 測量方法
  將測頭輕夾在被測物兩側，直接讀取厚度值。
  按壓升降桿，測頭抬起→放入樣品→松開即自動回零，操作簡單。
• 高精度刻度
  表盤式刻度提供 0.01 mm 與 0.001 mm 兩種分辨率。
• 測量范圍
  最大可測厚度 50 mm（視具體機型）。
• 適用樣品
  頭發(fā)絲、金屬薄板、細管、小成型件等均可快速測量，適合現(xiàn)場短時抽檢。