日本npinet硅晶圓缺陷檢查近紅外鹵素光源
日本npinet硅晶圓缺陷檢查近紅外鹵素光源

1. 近紅外專用燈 + 波段可選
• 基礎(chǔ)光源：15 V 150 W 直流鹵素?zé)?，光功率高、無頻閃
• 燈型可選：NIR 增強(qiáng)型（-NIR）、AIR 遠(yuǎn)紅型（-AIR）
• 快拆濾片：可見光截止、特定峰值增強(qiáng)等，一鍵切換，醬油、果汁中異物，蘋果、硬糖內(nèi)部裂紋，水油分層，硅片隱裂等成像更清晰
2. 高穩(wěn)定 DC 驅(qū)動
• 功率因數(shù) ≥ 0.95，電壓 AC 100–240 V 自適應(yīng)，光量波動 < ±1 %
3. 易集成
• 標(biāo)準(zhǔn)濾片插槽 + 光纖接口，可快速嵌入產(chǎn)線或顯微鏡/相機(jī)系統(tǒng)
• 本體僅 124 × 165 × 224 mm、2.7 kg，安裝空間需求小
4. 冷卻
• 強(qiáng)制空冷風(fēng)扇，長期運(yùn)行殼溫 ≤ 45 dB(A)，不干擾潔凈室/檢驗(yàn)室環(huán)境

• 食品：內(nèi)部傷、水分分布、鹽糖區(qū)分、貼標(biāo)后內(nèi)容確認(rèn)
• 樹脂/包裝：透射檢查、分層、氣泡、填充不均
• 半導(dǎo)體：硅片背面圖案、隱裂、IR 透射定位

PIS-UHX = 150 W 直流鹵素 + 即插濾片 + 光纖輸出，在 900-1 700 nm 波段為產(chǎn)線/實(shí)驗(yàn)室提供高穩(wěn)定、可定制的近紅外照明，輕松實(shí)現(xiàn)“可見光看不到"的內(nèi)部質(zhì)量檢測。