日本seiwaopt硅晶圓背面圖案觀察無損檢查燈

日本seiwaopt硅晶圓背面圖案觀察無損檢查燈
NIR版400-1100nm，AIR版擴展至1700nm
? 高穿透性：800nm/1000nm峰值波長匹配硅材料透射特性
? 無損檢測：不破壞樣品即可進行內(nèi)部檢查
? 精密調(diào)光：0.1%-100%光強調(diào)節(jié)，適應(yīng)不同檢測需求

產(chǎn)品型號：SIS-15-AIR
廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商
更新時間：2026-02-25
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詳細介紹

日本seiwaopt硅晶圓背面圖案觀察無損檢查燈

SIS-150系列是Seiwaopt（清和光學）推出的近紅外線照射裝置，專為無損檢測設(shè)計，特別適用于硅晶圓內(nèi)部檢查和背面圖案觀察等應(yīng)用。

該系列包含兩個型號：

SIS-150-NIR：標準近紅外型
SIS-150-AIR：擴展近紅外型（全紅外型）

?? 詳細規(guī)格對比

規(guī)格項目	SIS-150-NIR	SIS-150-AIR
額定輸入電壓	AC100-240V	AC100-240V
額定輸入頻率	50/60Hz	50/60Hz
照明方式	直流點燈方式	直流點燈方式
照射波長	400～1100nm	400～1700nm
峰值波長	800nm	1000nm
光強調(diào)節(jié)	輸出電壓可變（DC2V～15V），光強0.1%～100%可調(diào)	同左
保護功能	過流保護（電源重啟恢復(fù)）、過溫保護（自動恢復(fù)）	同左
冷卻方式	強制風扇冷卻	強制風扇冷卻
工作溫度/濕度	0℃～40℃ / 20%～80%RH（無結(jié)露）	同左
外形尺寸	W124 × H165 × D224mm（不含突起）	同左
重量	約2.7kg	約2.7kg
光導要求	標準規(guī)格	需專用耐熱光導

? 控制功能

兩款型號均配備以下功能：

功能	說明
燈斷線信號輸出	集電極開路/發(fā)射極開路
模擬調(diào)光	DC0～5V電壓輸入控制
遠程開關(guān)	DC5V施加即可關(guān)閉燈光

應(yīng)用領(lǐng)域

行業(yè)	具體應(yīng)用
半導體制造	Si晶圓內(nèi)部雜質(zhì)、微裂紋檢測；背面電路圖案觀察
食品/農(nóng)產(chǎn)品	水果糖度分布、水分含量無損檢測；蟲害及成熟度分析
制藥/生物	藥片成分均勻性檢測；生物組織熒光成像
鋼鐵/金屬	金屬裂紋、氣孔、夾雜物檢測；熱處理效果分析

?? 核心優(yōu)勢

? 寬光譜覆蓋：NIR版400-1100nm，AIR版擴展至1700nm
? 高穿透性：800nm/1000nm峰值波長匹配硅材料透射特性
? 無損檢測：不破壞樣品即可進行內(nèi)部檢查
? 精密調(diào)光：0.1%-100%光強調(diào)節(jié)，適應(yīng)不同檢測需求
? 多重保護：過流、過溫雙重保護，確保長時間穩(wěn)定運行
? 靈活控制：支持模擬電壓、數(shù)字并行、RS232C串行多種控制方式
? 工業(yè)級可靠性：強制風冷設(shè)計，適應(yīng)產(chǎn)線連續(xù)作業(yè)

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日本seiwaopt硅晶圓背面圖案觀察無損檢查燈

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