日本seiwaopt晶圓微裂紋檢測近紅外鹵素光源

日本seiwaopt晶圓微裂紋檢測近紅外鹵素光源

• SIS-150-NIR：標(biāo)準(zhǔn)近紅外型
• SIS-150-AIR：擴(kuò)展近紅外型（全紅外型）

• 
  

  ---

• ?? 應(yīng)用領(lǐng)域

• 
  

  行業(yè)	具體應(yīng)用
  半導(dǎo)體制造	Si晶圓內(nèi)部雜質(zhì)、微裂紋檢測；背面電路圖案觀察
  食品/農(nóng)產(chǎn)品	水果糖度分布、水分含量無損檢測；蟲害及成熟度分析
  制藥/生物	藥片成分均勻性檢測；生物組織熒光成像
  鋼鐵/金屬	金屬裂紋、氣孔、夾雜物檢測；熱處理效果分析

• ?? 核心優(yōu)勢

• ? 寬光譜覆蓋：NIR版400-1100nm，AIR版擴(kuò)展至1700nm
  ? 高穿透性：800nm/1000nm峰值波長匹配硅材料透射特性
  ? 無損檢測：不破壞樣品即可進(jìn)行內(nèi)部檢查
  ? 精密調(diào)光：0.1%-100%光強(qiáng)調(diào)節(jié)，適應(yīng)不同檢測需求
  ? 多重保護(hù)：過流、過溫雙重保護(hù)，確保長時間穩(wěn)定運行
  ? 靈活控制：支持模擬電壓、數(shù)字并行、RS232C串行多種控制方式
  ? 工業(yè)級可靠性：強(qiáng)制風(fēng)冷設(shè)計，適應(yīng)產(chǎn)線連續(xù)作業(yè)

?? 詳細(xì)規(guī)格對比