
PRODUCT CLASSIFICATION
產(chǎn)品分類產(chǎn)品展示/ Product display





日本leimac狹角配光偽同軸落射照明缺陷檢查采用改良半反射鏡技術(shù)的狹角配光疑似同軸落射照明,在緊湊機(jī)身上實(shí)現(xiàn)高照度、高發(fā)光均一性,且光軸與相機(jī)軸同向,是針對(duì)超精密工業(yè)視覺檢測(cè)的專用照明產(chǎn)品
產(chǎn)品型號(hào):IFVB-20
廠商性質(zhì):經(jīng)銷商
更新時(shí)間:2026-03-06
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日本leimac狹角配光偽同軸落射照明缺陷檢查
日本leimac狹角配光偽同軸落射照明缺陷檢查
產(chǎn)品核心定位:采用改良半反射鏡技術(shù)的狹角配光疑似同軸落射照明,在緊湊機(jī)身上實(shí)現(xiàn)高照度、高發(fā)光均一性,且光軸與相機(jī)軸同向,是針對(duì)超精密工業(yè)視覺檢測(cè)的專用照明產(chǎn)品,為 IFVA 系列的升級(jí)款,核心優(yōu)化了解像力表現(xiàn)。
核心產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)
高解像力:改良了所采用的半反射鏡,相較舊款 IFVA 系列解像力大幅提升,能清晰捕捉被測(cè)物的細(xì)微細(xì)節(jié),適配超精密檢測(cè)需求;
狹角配光 + 同軸照射:采用狹角配光設(shè)計(jì),結(jié)合半反射鏡實(shí)現(xiàn)相機(jī)軸同向的同軸照射,光線聚焦性更強(qiáng),正反射成像效果優(yōu)異;
適配精密正反射檢測(cè):可通過(guò)正反射完成檢測(cè),對(duì)工件表面微劃痕、印字 / 文字的識(shí)別檢測(cè)效果突出,能滿足超高精度的細(xì)節(jié)檢測(cè)要求;
緊湊化設(shè)計(jì):兼顧高照度、高均一性的同時(shí)保持機(jī)身緊湊,占用空間小,適配各類工業(yè)檢測(cè)設(shè)備的配套安裝。
全系列規(guī)格參數(shù)
型號(hào)分類:共推出 4 款型號(hào),分兩大電壓系列 ——DC12V 基礎(chǔ)款(IFVB-20/30)、DC24V HV 款(IFVB-20_HV/30_HV),覆蓋 20/30 兩種核心規(guī)格,適配不同精密檢測(cè)場(chǎng)景;
發(fā)光顏色:20 規(guī)格型號(hào)支持白色、紅色、藍(lán)色、綠色四種發(fā)光色,30 規(guī)格型號(hào)支持白、紅、藍(lán)三色,可根據(jù)被測(cè)物材質(zhì)、檢測(cè)需求靈活選擇;
外形尺寸:同規(guī)格的 12V/24V 型號(hào)尺寸一致,IFVB-20 系列為 28mm/60mm/23.5mm,IFVB-30 系列為 40mm/70mm/36mm,整體尺寸小巧,適配緊湊安裝空間。
核心適用場(chǎng)景:廣泛適用于各類超精密工業(yè)檢測(cè)與尺寸測(cè)量,包括高反光工件表面微劃痕檢測(cè)、精細(xì)印字 / 文字識(shí)別、電路板精細(xì)圖案檢測(cè)、連接器插針微小間距測(cè)量等對(duì)細(xì)節(jié)捕捉要求高的場(chǎng)景。
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